Microscopio de sonda de barrido con firma química
SignatureSPM es el primer microscopio construido sobre una plataforma de caracterización multimodal, que integra un microscopio de fuerza atómica (AFM) automatizado con un espectrómetro Raman/fotoluminiscencia, lo que permite realizar mediciones colocalizadas reales de propiedades físicas y químicas.
A través del conocimiento físico y químico combinado obtenido en una única medición en tiempo real, el investigador puede obtener un análisis confiable y completo de la muestra, con un tiempo de conocimiento acortado como resultado de una menor manipulación de la muestra y una adquisición de datos con un alto nivel de confianza, gracias a la correlación de mediciones diferenciales.
Características:
- Todos los modos AFM incluidos de serie: Todos los modos AFM están incluidos en el paquete básico de SignatureSPM: microscopía de sonda Kelvin, microscopía de fuerza de respuesta piezoeléctrica, microscopía de fuerza magnética, nanolitografía, mediciones de curva de fuerza.
- Espectómetro de amplio rango optimizado para Raman y fotoluminiscencia: Diseñado para la obtención de imágenes espectroscópicas, el espectrómetro SignatureSPM garantiza una pérdida de luz mínima gracias a su diseño acromático y a su impresionante reflectividad de la luz del 95 %. Ofrece una capacidad única para realizar mediciones Raman y PL precisas y eficientes gracias a su diseño versátil que puede alojar hasta 3 rejillas para cubrir un amplio rango espectral.
- Mediciones co-localizadas reales con «Probe away»: El comando de software «Probe away» aleja el voladizo de la superficie de la muestra para que se puedan obtener mapas Raman confocales completamente despejados. Con el comando «Probe back», la punta del AFM regresará automáticamente a su punto de análisis anterior en la superficie de la muestra.
- Camino directo al ápice del voladizo con alto acceso óptico: Las vías ópticas para el AFM y la espectroscopia están completamente separadas. Esta separación permite la libre elección de la longitud de onda del láser Raman/fotoluminiscencia (PL) y simplifica el ajuste de todo el sistema. También proporciona un aumento muy alto para visualizar la punta del AFM y lograr una mayor precisión en el posicionamiento.
- AFM para exploraciones de gran tamaño y resolución molecular: El SignatureSPM ofrece un rendimiento AFM excepcional con estabilidad y velocidad gracias a su escáner de rango de 100 x 100 x 15 micrones. Logra escaneos de gran tamaño y resolución molecular, priorizando la estabilidad a través de un tiempo de respuesta rápido, bajo nivel de ruido, baja desviación y trazabilidad metrológica.
- Ajuste rápido y repetible del voladizo: El intercambio de puntas sin problemas se puede realizar independientemente del operador y con una reproducibilidad inigualable. Cuando se reemplaza el soporte, se puede encontrar y escanear fácilmente el mismo punto en la superficie de la muestra sin pasos de búsqueda adicionales (con una repetibilidad de unos pocos micrones).
- Ajuste automático del sistema de registro AFM:La alineación totalmente automatizada del láser, el voladizo y el fotodiodo está diseñada para una integración perfecta con la espectroscopia óptica y elimina la necesidad de intervención del usuario.
No hay interferencias entre el láser AFM y las mediciones espectroscópicas: El diodo láser AFM infrarrojo no interfiere con los láseres de excitación Raman/PL visibles y elimina cualquier influencia parásita en muestras biológicas, semiconductores y fotovoltaicas sensibles a la luz visible.