Raman XploRA Nano – Nanoscopio espectrómetro de Horiba

XploRA Nano, AFM-Raman XploRA Nano
AFM-Raman para imágenes físicas y químicas

Sistema completamente integrado basado en el microscopio de sonda de escaneo de última generación SmartSPM y el microespectrómetro XploRA Raman.

Compacto, totalmente automatizado y fácil de usar, el XploRA Nano concentra la potencia de AFM-Raman en un paquete asequible pero con todas las funciones, haciendo que la imagen TERS sea una realidad para todos. El sistema probado TERS

Plataforma de análisis de muestras múltiples

Las mediciones a escala macro, micro y nano se pueden realizar en la misma plataforma.

Facilidad de uso

Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas!

Verdadera confocalidad

Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones de visualización de microscopio completo.

Alta eficiencia de recolección

Detección de Raman de arriba hacia abajo y oblicua para una resolución y rendimiento óptimos en mediciones co-localizadas y con punta mejorada (Raman y fotoluminiscencia).

Alta resolución espectral

Máximo rendimiento de resolución espectral, múltiples rejillas con conmutación automática, análisis de amplio rango espectral para Raman y PL.

Alta resolución espacial

Resolución espectroscópica a nanoescala (hasta 10 nm) a través de punta mejorada

Espectroscopias ópticas (Raman y fotoluminiscencia).

Multi-técnica / Multi-ambiente

Numerosos modos SPM que incluyen AFM, modos conductivos y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico, junto con mapeo químico a través de TERS / TEPL. El control total de los 2 instrumentos a través de una estación de trabajo y un potente control de software, SPM y espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente

Robustez / Estabilidad

Escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, ¡operación lejos de ruidos! Se obtiene un alto rendimiento sin aislamiento activo de vibraciones.

Especificaciones:

SmartSPM Scanner y Base

Rango de escaneo de muestra: 100 µm x 100 µm x 15 µm (± 10%)

Tipo de escaneo por muestra: no linealidad XY 0.05%; Z no linealidad 0.05%

Ruido: 0.1 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 200 Hz con sensores de capacitancia encendidos; 0.02 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 100 Hz con sensores de capacitancia apagados; <0.04 nm RMS en Z con sensor de capacitancia en ancho de banda de 1000 Hz

Frecuencia de resonancia: XY: 7 kHz (sin carga); Z: 15 kHz (descargado)

Movimiento X, Y, Z: control digital de bucle cerrado para ejes X, Y, Z; Alcance motorizado de aproximación Z 18 mm

Tamaño de muestra: máximo 40 x 50 mm, espesor de 15 mm

Posicionamiento de muestra: rango de posicionamiento de muestra motorizado 5 x 5 mm

Resolución de posicionamiento: 1 µm

Cabezal AFM

Longitud de onda del láser: 1300 nm, sin interferir con el detector espectroscópico

Alineación: alineación de voladizo y fotodiodo totalmente automatizada

Acceso a la sonda: acceso libre a la sonda para manipuladores externos adicionales y sondas

Modos de medición de SPM

Contacto AFM en aire / (líquido opcional); Semicontact AFM en aire / (líquido opcional); AFM sin contacto; Fase de imagen; Microscopía de fuerza lateral (LFM); Modulación de fuerza; AFM conductivo (opcional); Microscopía de fuerza magnética (MFM); Sonda Kelvin (microscopía de potencial de superficie, SKM, KPFM); Capacitancia y microscopía de fuerza eléctrica (EFM); Medición de curva de fuerza; Microscopía de fuerza de respuesta piezoeléctrica (PFM); Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios (opcional)

Modos de espectroscopía

Raman confocal, imágenes y espectroscopía de fluorescencia y fotoluminiscencia

Espectroscopía Raman de punta mejorada (TERS) en modos AFM, STM y fuerza de corte

Fotoluminiscencia de punta mejorada (TEPL)

Microscopía y espectroscopía de escaneo óptico de campo cercano (NSOM / SNOM)

Unidad conductora de AFM (opcional)

Rango de corriente: 100 fA ÷ 10 µA; 3 rangos de corriente (1 nA, 100 nA y 10 µA) conmutables desde el software

Acceso óptico

Capacidad para usar simultáneamente el objetivo apocromático del plan superior y lateral: hasta 100x, NA = 0.7 desde la parte superior o lateral; Hasta 20x y 100x simultáneamente

Escáner de objetivo piezoeléctrico de circuito cerrado para una alineación láser espectroscópica ultra estable a largo plazo: Rango 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolución: 1 nm

Espectrómetro

Microespectrómetros compactos XploRA Plus totalmente automatizados, funcionales como microscopio micro-Raman autónomo

Rango de longitud de onda: 75 cm-1 a 4000 cm-1

Rejillas: 4 rejillas en torreta controlada por computadora (600, 1200, 1800 y 2400 g / mm)

Automatización: operación totalmente motorizada y controlada por software

Detección

Gama completa de detectores CCD y EMCCD.

Fuentes de laser

Longitud de onda típica: 532 nm, 638 nm, 785 nm. Otras longitudes de onda disponibles bajo pedido.

Automatización: operación totalmente motorizada y controlada por software

Software

Paquete de software integrado que incluye SPM con todas las funciones, espectrómetro y control de adquisición de datos, paquete de análisis y procesamiento de datos espectroscópicos y SPM, que incluye ajuste espectral, desconvolución y filtrado, los módulos opcionales incluyen un paquete de análisis univariado y multivariado (PCA, MCR, HCA, DCA), partículas detección y funcionalidades de búsqueda espectral.